鍍層厚度量測顯微鏡/層厚測量顯微系統

日期：2025-05-09 22:13

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摘要：層厚測量顯微系統歐米特層厚測量顯微系統的發展基于**的光學和圖像技術，使用高分辨率CCD和CMOS攝像機，將顯微鏡的光學圖像轉換到計算機中，與歐米特專用的測量軟件系統進行圖像測量，能夠提供舒適的操作和靈活的解決方案。